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HerstellerTDK
HerstellerteilenummerMLZ1608M100WT000
Bestellnummer2800732
ProduktpaletteMLZ Series
Technisches Datenblatt
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Menge | |
---|---|
4000+ | CHF 0.043 |
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Produktspezifikationen
HerstellerTDK
HerstellerteilenummerMLZ1608M100WT000
Bestellnummer2800732
ProduktpaletteMLZ Series
Technisches Datenblatt
Induktivität10µH
DC-Widerstand, max.1.05ohm
Eigenresonanzfrequenz50MHz
DC-Nennstrom250mA
Bauform/Gehäuse der Induktivität0603 [Metrisch 1608]
Bauform - Induktivität0603 [Metrisch 1608]
ProduktpaletteMLZ Series
Induktivitätstoleranz± 20%
Eigenresonanzfrequenz, min.50MHz
Bauart der InduktivitätGeschirmt
KernmaterialFerrit
Produktlänge1.6mm
Produktbreite0.8mm
Produkthöhe0.8mm
SVHCNo SVHC (21-Jan-2025)
Produktbeschreibung
MLZ1608M100WT ist eine Vielschicht-Ferritspule zur Oberflächenmontage, die sich zum Entkoppeln von Schaltkreisen eignet und eine um bis zu 225% verbesserte Gleichstromüberlagerung aufweist.
- Unterdrückung von hochfrequentem Rauschen
- Typ: IDC-UP
- Magnetisch geschirmt
- Ferritkern
- Branchenweit beste Leistung in Bezug auf die Gleichstromüberlagerung
Technische Spezifikationen
Induktivität
10µH
Eigenresonanzfrequenz
50MHz
Bauform/Gehäuse der Induktivität
0603 [Metrisch 1608]
Produktpalette
MLZ Series
Eigenresonanzfrequenz, min.
50MHz
Kernmaterial
Ferrit
Produktbreite
0.8mm
SVHC
No SVHC (21-Jan-2025)
DC-Widerstand, max.
1.05ohm
DC-Nennstrom
250mA
Bauform - Induktivität
0603 [Metrisch 1608]
Induktivitätstoleranz
± 20%
Bauart der Induktivität
Geschirmt
Produktlänge
1.6mm
Produkthöhe
0.8mm
Technische Dokumente (2)
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85045000
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Ja
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Ja
RoHS
SVHC:No SVHC (21-Jan-2025)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.000004
Produktnachverfolgung